檢漏儀-博為光電|售后滿意-檢漏儀公司

真空壓力法的優(yōu)點是檢測靈敏度高，檢漏儀設(shè)備，能實現(xiàn)任何工作壓力的漏率檢測，檢漏儀，反映被檢件的真實泄漏狀態(tài)。真空壓力法的缺點是檢漏系統(tǒng)復雜，需要根據(jù)被檢產(chǎn)品的容積和形狀設(shè)計真空密封室。這里需要說明在檢漏過程要求確保充氣管道接口無泄漏，或者采取特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計將所有充氣管道連接接口放置在真空密封室外部。背壓法氦質(zhì)譜檢漏：采用背壓法檢漏時，首先將被檢產(chǎn)品置于高壓的氦氣室中，浸泡數(shù)小時或數(shù)天，如果被檢產(chǎn)品表面有漏孔，氦氣便通過漏孔壓入被檢產(chǎn)品內(nèi)部密封腔中，使內(nèi)部密封腔中氦分壓力上升。然后取出被檢產(chǎn)品，將表面的殘余氦氣吹除后再將被檢產(chǎn)品放入與檢漏儀相連的真空容器內(nèi)，被檢產(chǎn)品內(nèi)部密封腔內(nèi)的氦氣會通過漏孔泄漏到真空容器，再進入氦質(zhì)譜檢漏儀，從而實現(xiàn)被檢產(chǎn)品總漏率測量。檢漏儀給出的漏率值為測量漏率，需要通過換算公式計算出被檢產(chǎn)品的等效標準漏率。 氦質(zhì)譜檢漏儀檢漏也是無損檢測（X射線、渦流、超聲等）的多種方法中的一種，是壓力容器無損檢測的佳形式。廣泛應(yīng)用于航天、航空、、電子零部件、真空設(shè)備、電真空、電力、石化、半導體前道、空調(diào)制冷等新技術(shù)的領(lǐng)域。

檢漏的基本任務(wù)靠采取一些標準檢漏技術(shù)來完成，而采用哪種技術(shù)要根據(jù)被檢件的結(jié)構(gòu)、檢漏的經(jīng)濟效益及檢漏系統(tǒng)的性質(zhì)來決定。近年來由于電子工業(yè)的發(fā)展，空間探索活動的增加，檢漏技術(shù)得到了快速發(fā)展，它的重要標志是將以氦為示蹤氣體的氦質(zhì)譜檢漏儀已快速地進入了各個適用的領(lǐng)域。氦質(zhì)譜檢漏法是利用氦質(zhì)譜檢漏儀的氦分壓力測量原理，實現(xiàn)被檢件的氦泄漏量測量。當被檢件密封面上存在漏孔時，示漏氣體氦氣及其它成分的氣體均會從漏孔泄出，泄漏出來的氣體進入氦質(zhì)譜檢漏儀后，由于氦質(zhì)譜檢漏儀的選擇性識別能力，僅給出氣體中的氦氣分壓力信號值。在獲得氦氣信號值的基礎(chǔ)上，通過標準漏孔比對的方法就可以獲得漏孔對氦泄漏量。質(zhì)譜室里的燈絲發(fā)射出來的電子，在室內(nèi)來回地振蕩，并與室內(nèi)氣體和經(jīng)漏孔進人室內(nèi)的氦氣相互碰撞使其電離成正離子，這些氦離子在加速電場作用下進人磁場，由于洛倫茲力作用產(chǎn)生偏轉(zhuǎn)，電子檢漏儀，形成圓弧形軌道，改變加速電壓可使不同質(zhì)量的離子通過磁場和接收縫到達接收極而被檢測。噴氦法、吸氦法是氦質(zhì)譜檢漏儀在電阻爐檢漏中常用的兩種方法。

氦氣在空氣中含量非常少，只有5ppm（空氣中占約1/200，000）；在被測試的物體內(nèi)部所殘留的空氣中的氦氣含量也非常少；由于氦分子量小、分子直徑小（在元素周期表中在僅排在氫的后面），即便是極其微小的滲漏孔也能方便地通過；由于具有化學上的不活躍性，不會污染排氣系統(tǒng)及被測試物體， 由于具有對人體無害性和不可燃爆性，因此使用安全方便； 對分析管的分辨率要求并不高，容易實現(xiàn)高靈敏度；不存在環(huán)境污染問題。氦質(zhì)譜檢漏儀在壓力容器中的常用方法：在壓力容器中，使用氦質(zhì)譜檢漏儀檢漏常用的方法大體可分為三種，即噴氦法（負壓法），吸法（正壓法），氦罩法。就幾種方法的靈敏度比較而言，噴氦法的靈敏度高些。但是當檢漏儀安裝在大型的、比較復雜的壓力容器裝置上時，也不敢確切地說噴氦法的靈敏度就是高。氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)是真空檢漏領(lǐng)域里不可缺少的一種技術(shù)，由于檢漏，簡便易操作，儀器反應(yīng)靈敏，精度高，不易受其他氣體的干擾，在電阻爐檢漏中得到了廣泛應(yīng)用。是根據(jù)質(zhì)譜學原理，用氦氣作示漏氣體制成的氣密性檢測儀器。由離子源、分析器、收集器、冷陰極電離規(guī)組成的質(zhì)譜室和抽氣系統(tǒng)及電氣部分等組成。

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