金湖便攜式三坐標(biāo)檢測(cè)廠詢問(wèn)報(bào)價(jià)「無(wú)錫三廣眾成精工」

?如何選擇三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的探針

探針是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的一部分，主要用來(lái)觸測(cè)工件表面，使得測(cè)頭的機(jī)械裝置移位，產(chǎn)生信號(hào)觸發(fā)并采集一個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)。一般的探針都是由一個(gè)桿和紅寶石球組成。

上海三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的探針有幾個(gè)主要專業(yè)術(shù)語(yǔ)：

1：有效工作長(zhǎng)度 (EWL)

2：桿直徑

3：總長(zhǎng)（指的是從探針后固定面到測(cè)尖中心的長(zhǎng)度）

4：測(cè)針直徑

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?哪些案例不適合用三坐標(biāo)檢測(cè)

哪些案例不適合用三坐標(biāo)檢測(cè)

三坐標(biāo)檢驗(yàn)適用范圍的原則，哪些案例不適合用三坐標(biāo)檢測(cè)：

1、調(diào)試調(diào)整中的粗調(diào)階段、用其他手段可以進(jìn)行直觀簡(jiǎn)單粗調(diào)的。

2、使用其他手段在原理上的困難因素在三坐標(biāo)上同樣存在的。

3、零件形狀精度過(guò)低，由于三坐標(biāo)點(diǎn)測(cè)量原理（且不宜加大取點(diǎn)密度）會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果失去可信性的情況。

4、其他手段（含間接及近似手段）能夠達(dá)到檢測(cè)技術(shù)要求，且用通常手段檢驗(yàn)時(shí)間低于三坐標(biāo)檢驗(yàn)時(shí)間的5 倍的零件

三坐標(biāo)檢驗(yàn)適用范圍的原則，哪些案例不適合用三坐標(biāo)檢測(cè)：

1、調(diào)試調(diào)整中的粗調(diào)階段、用其他手段可以進(jìn)行直觀簡(jiǎn)單粗調(diào)的。

2、使用其他手段在原理上的困難因素在三坐標(biāo)上同樣存在的。

3、零件形狀精度過(guò)低，由于三坐標(biāo)點(diǎn)測(cè)量原理（且不宜加大取點(diǎn)密度）會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果失去可信性的情況。

4、其他手段（含間接及近似手段）能夠達(dá)到檢測(cè)技術(shù)要求，且用通常手段檢驗(yàn)時(shí)間低于三坐標(biāo)檢驗(yàn)時(shí)間的5 倍的零件

怎樣選擇合適的三坐標(biāo)測(cè)頭

2.選用掃描測(cè)頭的場(chǎng)合

應(yīng)用于有形狀要求的零件和輪廓的測(cè)量：掃描方式測(cè)量的主要優(yōu)點(diǎn)在于能高速的采集數(shù)據(jù)，這些數(shù)據(jù)不僅可以用來(lái)確定零件的尺寸及位置，更重要的是能用眾多的點(diǎn)來(lái)精q圓活塞等)；也適用于你不能確信你所用的加工設(shè)備能加工出形狀足夠好的零件，而形狀誤差成為主要問(wèn)題時(shí)的情況。測(cè)量：由于掃描測(cè)頭對(duì)離散點(diǎn)測(cè)量是勻速或恒測(cè)力采點(diǎn)，其測(cè)點(diǎn)精度可以更高。同時(shí)，掃描測(cè)頭可以直接判斷接觸點(diǎn)的法矢，對(duì)于要求嚴(yán)格定位、定向測(cè)量的場(chǎng)合，掃描測(cè)頭對(duì)離散點(diǎn)的測(cè)量也具有優(yōu)勢(shì)。對(duì)于未知曲面的掃描，亦即稱為數(shù)字化的場(chǎng)合下，掃描測(cè)頭顯示出了它的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)：因?yàn)閿?shù)字化工作方式時(shí)，需要大量的點(diǎn)，觸發(fā)式測(cè)頭的采點(diǎn)方式顯得太慢；由于是未知曲面，測(cè)量機(jī)運(yùn)動(dòng)的控制方式亦不一樣，即在“探索方式”下工作；只要設(shè)計(jì)合理并注意維護(hù)，將三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)放置在計(jì)量實(shí)驗(yàn)室或隔溫柜內(nèi)對(duì)提高三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的精度與可靠性的好處比不良影響要大。測(cè)量機(jī)根據(jù)已運(yùn)動(dòng)的軌跡來(lái)計(jì)算下一步運(yùn)動(dòng)的軌跡、計(jì)算采點(diǎn)密度等。

在可以應(yīng)用接觸式測(cè)頭的情況下，慎選非接觸式測(cè)頭；

在只測(cè)尺寸、位置要素的情況下盡量選接觸式觸發(fā)測(cè)頭；

考慮成本又能滿足要求的情況下，盡量選接觸式觸發(fā)測(cè)頭；

對(duì)形狀及輪廓精度要求較高的情況下選用掃描測(cè)頭；

掃描測(cè)頭應(yīng)當(dāng)可以對(duì)離散點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量；考慮掃描測(cè)頭與觸發(fā)測(cè)頭的互換性(一般用通用測(cè)座來(lái)達(dá)到)；

易變形零件、精度不高零件、要求超大量數(shù)據(jù)零件的測(cè)量，可考慮采用非接觸式測(cè)頭；

要考慮軟件、附加硬件(如測(cè)頭控制器、電纜)的配套。