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發(fā)布時間:2021-10-08 00:05  






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Nisene 是一家從事失效分析開封設備的美國公司,有著三十多年自動開封研發(fā)制造歷史。 作為自動塑封開封技術的,Nisene提供的產(chǎn)品,方法和技術支持來滿足所有半導體器件的開封要求。 公司不斷提供創(chuàng)新的,高質量的產(chǎn)品來滿足不斷變化的半導體器件失效性分析領域內(nèi)的需求。蘇州特斯特電子科技有限公司,主要從事各類測試、檢測儀器設備的代理銷售和技術服務,產(chǎn)品涵蓋電子元器件,電路板,線纜線束的測試與檢測。


失效分析是對所有檢驗、篩選、以及在電子系統(tǒng)上失效的元器件進行的以檢測元器件(或半產(chǎn)品)不能正常工作(失去某種功能)原因為目的的一系列試驗。失效分析是在發(fā)現(xiàn)元器件失效后進行的查找原因的過程,是以判別責任或改進工藝為目的的。

其中DPA和失效分析,都需要對塑封器件進行開封,不同于密封器件,塑封器件的芯片不是在空腔中,而是被塑封材料整個包裹住。因此,開封的這一步很關鍵。如何選擇合理有效的開封方法至關重要。




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