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發(fā)布時間:2020-07-25 16:59  






IC常見的問題

EM (electron migration,電子遷移)

“電子遷移”是50年代在微電子科學領(lǐng)域發(fā)現(xiàn)的一種從屬現(xiàn)象,指因電子的流動所導(dǎo)致的金屬原子移動的現(xiàn)象。因為此時流動的“物體”已經(jīng)包括了金屬原子,所以也有人稱之為“金屬遷移”。net)更重要的是,藉由這個方法可以增加Gate端和下層的接觸面積。在電流密度很高的導(dǎo)體上,電子的流動會產(chǎn)生不小的動量,這種動量作用在金屬原子上時,就可能使一些金屬原子脫離金屬表面到處流竄,結(jié)果就會導(dǎo)致原本光滑的金屬導(dǎo)線的表面變得凹凸不平,造成性的損害。這種損害是個逐漸積累的過程,當這種“凹凸不平”多到一定程度的時候,就會造成IC內(nèi)部導(dǎo)線的斷路與短路,而終使得IC報廢。溫度越高,電子流動所產(chǎn)生的作用就越大,其徹底破壞IC內(nèi)一條通路的時間就越少,即IC的壽命也就越短,這也就是高溫會縮短IC壽命的本質(zhì)原因。

NBTI 、HCI、TDDB

這三個效應(yīng)都跟MOSFET (metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor, 金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)管) 原理有關(guān)。

罪魁禍首 : SiOHSiOH

MOSFET原理是一個門極(Gate)靠靜電勢控制底下的導(dǎo)電溝道深度,電勢高形成深溝道電流就大,電勢低溝道消失就不導(dǎo)電了。稍微想深一層就知道這個門極導(dǎo)電底下的溝道也導(dǎo)電,那就必須中間有個絕緣介質(zhì)把他們分開,否則就變成聯(lián)通線不是晶體管了。它與VCS一樣采用了革命性的模擬技術(shù),即在同一個模擬器中把節(jié)拍式模擬技術(shù)與事件驅(qū)動的模擬技術(shù)結(jié)合起來。再想深一層就知道這個絕緣介質(zhì)的做法是把硅氧化做二氧化硅。而行外人一般想不到的是光二氧化硅還不夠,工程上二氧化硅和基板硅之間附著很差,必須加入Si-H鍵把二氧化硅層拴住。所以實際上介質(zhì)層和硅之間有一層不是純SiO2SiO2是SiOHSiOH,問題由此產(chǎn)生。








4GHzCMOS全數(shù)字鎖相環(huán)

隨著深亞微米CMOS工藝的發(fā)展,工藝尺寸的縮小使模擬電路的設(shè)計變得更加復(fù)雜,盡可能采用數(shù)字電路代替模擬電路成為發(fā)展的趨勢。所以說質(zhì)量(Quality)解決的是現(xiàn)階段的問題,可靠性(Reliability)解決的是一段時間以后的問題。鎖相環(huán)作為時鐘產(chǎn)生電路是射頻通信系統(tǒng)中的關(guān)鍵模塊,其中全數(shù)字鎖相環(huán)具有良好的集成性、可移植性和可編程性,以及能夠?qū)崿F(xiàn)較好的相位噪聲指標等優(yōu)勢,得到了越來越廣泛的研究和發(fā)展。本文著重于2.4GHz CMOS全數(shù)字鎖相環(huán)的研究與設(shè)計,主要工作包括:

1)首先分析并推導(dǎo)了全數(shù)字鎖相環(huán)的主要性能指標,接著分析了I型和II型全數(shù)字鎖相環(huán)的原理和結(jié)構(gòu)特點,并分析了環(huán)路參數(shù)對整個環(huán)路特性與穩(wěn)定性的影響。

2)提出一種用于時間數(shù)字轉(zhuǎn)換器(Time-to-Digital Converter,TDC)的互補比較器的結(jié)構(gòu),在傳統(tǒng)比較器結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,疊加一個與之互補的比較器,能夠消除輸出波形的毛刺,降低輸入失調(diào)電壓,提高比較器的工作速度,進而改善比較器的精度。相對而言,Reliability的問題似乎就變的十分棘手,這個產(chǎn)品能用多久,whoknows。




3)提出一種可重構(gòu)數(shù)字濾波器(Digital Loop Filter,DLF),將DLF的參數(shù)KP、KI做成芯片外的控制端口,通過片外手動調(diào)節(jié)來改變芯片內(nèi)部的參數(shù),可以改變?nèi)珨?shù)字鎖相環(huán)的帶寬,開環(huán)和閉環(huán)響應(yīng),以及幅度響應(yīng)等,終能夠方便地在片外調(diào)節(jié),使環(huán)路達到鎖定狀態(tài)。在IC生產(chǎn)流程中,IC多由專業(yè)IC設(shè)計公司進行規(guī)劃、設(shè)計,像是聯(lián)發(fā)科、高通、Intel等大廠,都自行設(shè)計各自的IC芯片,提供不同規(guī)格、效能的芯片給下游廠商選擇。

4)分析和設(shè)計了一款數(shù)控振蕩器(Digitally Controlled Oscillator,DCO),采用CMOS交叉耦合LC振蕩器,包括粗調(diào)、中調(diào)和精調(diào)三個電容陣列和ΔΣ調(diào)制器。“芯片”和“集成電路”這兩個詞經(jīng)?;熘褂茫热缭诖蠹移匠S懻撛掝}中,集成電路設(shè)計和芯片設(shè)計說的是一個意思,芯片行業(yè)、集成電路行業(yè)、IC行業(yè)往往也是一個意思。其中,粗調(diào)單元采用MIM電容,中調(diào)和精調(diào)單元采用兩對反向連接的PMOS對管構(gòu)成MOS電容,本文DCO的增益為300kHz左右,使用ΔΣ調(diào)制器后,DCO的分辨率可以達到5kHz左右。


過程控制計算機軟件包

發(fā)展強有力的程序測試系統(tǒng),是提高程序可靠性的有效手段。但當前由于國內(nèi)軟件包的問世,在測試范圍、測試要求和測試方法等方面,都提出了新的要求,原有的一般程序測試工具已不能獨立地、完整地完成測試任務(wù)。芯片規(guī)格,也就像功能列表一樣,是客戶向芯片設(shè)計公司提出的設(shè)計要求,包括芯片需要達到的具體功能和性能方面的要求。因此,就提出了設(shè)計新的測試系統(tǒng)的要求。本文主要是根據(jù)軟件包測試的新要求,提出了設(shè)計新的測試系統(tǒng)的一些準則。在此基礎(chǔ)上,進一步闡明如何根據(jù)這些準則,來組成一個測試系統(tǒng);并以實例來說明這種系統(tǒng)的使用對加速程序測試和提高其可靠性是有效的;同時,使用也很方便。



深圳瑞泰威科技有限公司是國內(nèi)IC電子元器件的代理銷售企業(yè),專業(yè)從事各類驅(qū)動IC、存儲IC、傳感器IC、觸摸IC銷售,品類齊全,具備上百個型號。如果把中央處理器CPU比喻為整個電腦系統(tǒng)的心臟,那么主板上的芯片組就是整個身體的軀干。與國內(nèi)外的東芝、恩智浦、安森美、全宇昕、上海晶準等均穩(wěn)定合作,保證產(chǎn)品的品質(zhì)和穩(wěn)定供貨。自公司成立以來,飛速發(fā)展,產(chǎn)品已涵蓋了工控類IC、光通信類IC、無線通信IC、消費類IC等行業(yè)。


IC設(shè)計方案行業(yè)的盆友都了解,數(shù)字集成電路所追求的并并不是加工工藝連接點。另外,前面提到的斷裂的Si-H鍵是可以自己恢復(fù)的,所以基于斷鍵的老化效應(yīng)都有恢復(fù)模式。只是加工工藝,設(shè)計方案,板圖,實體模型,封裝這些全部全產(chǎn)業(yè)鏈上邊每個一部分的融合。而數(shù)字電路設(shè)計所追求的大量的則是系統(tǒng)架構(gòu)圖,優(yōu)化算法的提升,針對加工工藝則是無止盡的追求圖形界限少,功能損耗少,傳送延遲時間少。





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