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熔接損耗值不穩(wěn)定/偏高
清潔V型槽,光纖夾具,防風(fēng)罩內(nèi)的反光鏡,物鏡。
如果具有二次護(hù)層的光纖有彎曲或卷曲記憶時(shí),放置光纖時(shí)需使彎曲部分向上。
熔接損耗由切割角度,放電條件和光纖的清潔決定。請(qǐng)確保整備光纖的質(zhì)量。
電極老化需更換電極。
如果做完以上操作后,熔接損耗仍舊過高或不穩(wěn)定,請(qǐng)與代理商聯(lián)系。建議定期(至少一年一次)對(duì)設(shè)備進(jìn)行保養(yǎng),以保證良好的熔接質(zhì)量。
光時(shí)域反射儀常見問題
光時(shí)域反射儀常見問題
1、 無法存貯測(cè)試結(jié)果
該故障引起的原因可以從以下幾點(diǎn)分析:
(1)存貯容量已滿(2)存貯信息有誤(3)存貯電路損壞
2、 操作個(gè)別選項(xiàng)無反應(yīng)
(1)該選項(xiàng)屬于非正常操作
(2)因個(gè)別按鍵失靈
(3)儀表反應(yīng)緩慢但并非無反應(yīng)
3、光時(shí)域反射儀無法開機(jī)
該故障引起的原因可以從以下幾點(diǎn)分析:
(1)電源供電不正常(2)主板損壞
4、電池?zé)o法充電
(1)電池組芯損壞(2)儀表充電電路損壞
2M誤碼儀
2M誤碼儀用2Mb/s N*64Kb/s誤碼測(cè)試、離線測(cè)試、FAS、CRC-4、E-BIT等測(cè)試的儀器,如Enovo的3120C一樣,測(cè)試結(jié)果擁有很高的準(zhǔn)確率。
基本功能:
離線測(cè)試(中斷業(yè)務(wù)測(cè)試,75ohm匹配測(cè)試)/在線測(cè)試(跨接高阻測(cè)試)
成幀/非成幀測(cè)試
2Mb/s N*64Kb/s誤碼測(cè)試
FAS、CRC-4、E-BIT等測(cè)試
具有單時(shí)隙語音功能;
發(fā)送時(shí)鐘可選
單誤碼插入或比率誤碼插入功能
各種告警插入功能
LED告警和狀態(tài)指示
可選ITU-TG.
821,G. 826和M. 2100標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試結(jié)果分析