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發(fā)布時(shí)間:2021-08-01 16:09  






2.5次元影像測(cè)量儀與二次元影像儀的區(qū)別有哪些呢?

2.5次元測(cè)量儀,是指在二次元的基礎(chǔ)上,以光學(xué)影像測(cè)量可測(cè)高度及深度,或者在鏡頭上加個(gè)測(cè)針,用光學(xué)鏡頭測(cè)量平面尺寸、用測(cè)針進(jìn)行接觸式測(cè)量可測(cè)深度,達(dá)到3維測(cè)量的效果,但此3維測(cè)量僅是簡易的3D測(cè)量,未能真正地實(shí)現(xiàn)3維全部空間尺寸的測(cè)量,因此被稱為2.5次元。




隨著半導(dǎo)體技術(shù)的電子技術(shù)工藝的發(fā)展,電子產(chǎn)品都往小型化,輕薄化發(fā)展。iWatch的一經(jīng)推出,穿戴電子產(chǎn)品成為了一個(gè)新的電子設(shè)備應(yīng)用潮流。隨著電子產(chǎn)品的小型化,器件體積越做越小,空間就緊湊起來,這對(duì)器件加工尺寸及工藝的容差要求就越來越高。

這款儀器采用非接觸式線光譜共焦快速掃描技術(shù),能夠高l精度還原產(chǎn)品的3D結(jié)構(gòu),對(duì)肉眼不可見的結(jié)構(gòu)缺陷都能準(zhǔn)確檢測(cè)。因?yàn)榫哂休^快的掃描速度,微米級(jí)別的精度和超l強(qiáng)的穩(wěn)定性,一經(jīng)推出立馬成為精密生產(chǎn)商的新寵。在精密鑄件、精密點(diǎn)膠、3D玻璃,半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)和多層光學(xué)薄膜厚度檢測(cè),就是這款產(chǎn)品的主要應(yīng)用領(lǐng)域。





一、三維表面形貌儀測(cè)量原理:低相干白光同時(shí)照射樣品和參考平面,被樣品和參考平面反射的兩束白光發(fā)生干涉后由陣列式CMOS探測(cè)器接收,由于探測(cè)器直接與信號(hào)處理芯片(Smart Pixel技術(shù))連接,所以陣列上每個(gè)像素點(diǎn)的信號(hào)都在芯片中完成鎖相放大,背景信號(hào)補(bǔ)償和結(jié)果計(jì)算輸出,成像于計(jì)算機(jī)就實(shí)現(xiàn)了樣品表面的快速三維形貌測(cè)量。    二、三維表面形貌儀技術(shù)特點(diǎn):    1、每秒一百萬張二維圖像    2、無損表面形貌檢測(cè)和分析    3、高精度在線/離線檢測(cè)    4、模塊化設(shè)計(jì),超高集成靈活性    5、無需苛刻的工作環(huán)境(振動(dòng),噪聲,溫度等)    6、可應(yīng)用于科研和工業(yè)領(lǐng)域


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