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濾波電抗器串聯(lián)電抗器質(zhì)量放心可靠 上海志友電氣媲美進(jìn)口

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發(fā)布時(shí)間:2021-07-30 03:00  










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干式空心電抗器匝間絕緣故障位置與電氣參數(shù)之間關(guān)系

為了求得干式空心電力電抗器匝間絕緣故障在線監(jiān)測的有效方法,建立空心電力電抗器匝間絕緣短路故障時(shí)的等效電路模型,給出了等效阻抗,等效電抗,等效電阻及損耗因數(shù)4個(gè)電氣參數(shù)的計(jì)算方法.分別對不同匝間絕緣短路故障位置下串聯(lián)和并聯(lián)空心電抗器的電氣參數(shù)進(jìn)行計(jì)算,并對不同溫度下各個(gè)電氣參數(shù)的變化進(jìn)行了研究.結(jié)果表明:在相同故障位置下串聯(lián)空心電力電抗器參數(shù)變化的范圍明顯大于并聯(lián)空心電力電抗器的變化率范圍,且損耗因數(shù)的變化大,其次是等效電阻,而等效電抗和等效阻抗的變化很小;同時(shí)發(fā)現(xiàn)隨著電抗器導(dǎo)線溫度的升高,空心電力電抗器發(fā)生匝間絕緣故障時(shí)的電氣參數(shù)變化都在逐漸減小.建議選擇損耗因數(shù)作為干式空心電力電抗器匝間絕緣故障監(jiān)測的電氣參量,為干式空心電力電抗器匝間絕緣故障在線監(jiān)測提供了理論依據(jù)。

上海志友電氣制造有限公司15年空心電抗器大型實(shí)力廠家,質(zhì)量好,口碑好。








干式空心電抗器匝間絕緣試驗(yàn)關(guān)鍵技術(shù)及裝置研究

對于干式空心電抗器匝間絕緣檢測,IEEE C57.21和IEEE C57.26標(biāo)準(zhǔn)雖然提供了匝間絕緣檢測的試驗(yàn)方法,但目前國內(nèi)尚缺乏有效的試驗(yàn)設(shè)備。為此本公司研究了干式空心電抗器匝間絕緣檢測試驗(yàn)關(guān)鍵技術(shù),通過采用倍壓電路、限流電阻及觸發(fā)球隙實(shí)現(xiàn)了對放電頻率的控制,并在此基礎(chǔ)上研制了一套完全滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求,體積小、重量輕,可以進(jìn)入變電所無功補(bǔ)償室進(jìn)行試驗(yàn)的檢測設(shè)備,取得了滿意的電抗器匝間絕緣檢測試驗(yàn)結(jié)果。









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干式空心電抗器的老化及評估技術(shù)的研究

隨著干式空心電抗器在電網(wǎng)中大量使用,由于產(chǎn)品制造工藝上的局限性,投切時(shí)產(chǎn)生的高頻過電壓以及在惡劣工況下長時(shí)間運(yùn)行等原因,其故障時(shí)有發(fā)生,造成了巨大的經(jīng)濟(jì)損失.足夠證據(jù)表明巨大部分事故是由于其匝間絕緣失效所引起.因此,研究干式空心電抗器的匝間絕緣老化特性及其絕緣診斷技術(shù)對于保證其安全穩(wěn)定運(yùn)行有著重要的意義.干式空心電抗器運(yùn)行投切過程中形成的過電壓是造成其匝間絕緣損傷的主要因素之一,為了了解過電壓對電抗器匝間絕緣老化的影響,根據(jù)干式空心電抗器匝間絕緣結(jié)構(gòu),匝間絕緣試樣,并搭建了單一熱老化試驗(yàn)平臺,交流耐壓試驗(yàn)平臺,脈沖振蕩過電壓試驗(yàn)平臺.對其進(jìn)行了熱老化,工頻電壓下的電-熱聯(lián)合老化,沖擊電壓下電-熱聯(lián)合老化,通過對試驗(yàn)數(shù)據(jù)的分析可知:干式空心電抗器匝間絕緣在單一的熱老化作用下,其老化程度基本不變,在超過25年時(shí),試樣耐壓水平才出現(xiàn)明顯下降的趨勢,在等效運(yùn)行年限達(dá)到30年時(shí),其絕緣水平下降了30.5%,說明單純熱老化并不是干式空心電抗器匝間絕緣老化的主要原因。











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