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常州EMMI廠家品牌企業(yè)「蘇州特斯特」

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發(fā)布時(shí)間:2021-10-07 05:36  






超聲波掃描顯微鏡測(cè)試分類:

按接收信息模式可分為反射模式與透射模式。

按掃描方式分可分為 C掃,B掃,X掃,Z掃,分焦距掃描,分頻率掃描等多種方式

超聲波掃描顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體電子行業(yè):半導(dǎo)體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;

材料行業(yè):復(fù)合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導(dǎo)材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等;

生物醫(yī)學(xué):細(xì)胞動(dòng)態(tài)研究、骨骼、血管的研究等.

塑料封裝IC、晶片、PCB、LED

超聲波掃描顯微鏡應(yīng)用范圍:

超聲波顯微鏡的在失效分析中的優(yōu)勢(shì)

非破壞性、無損檢測(cè)材料或IC芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)

可分層掃描、多層掃描

實(shí)施、直觀的圖像及分析

缺陷的測(cè)量及缺陷面積和數(shù)量統(tǒng)計(jì)

可顯示材料內(nèi)部的三維圖像

對(duì)人體是沒有傷害的

可檢測(cè)各種缺陷(裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等)




同時(shí)利用光誘導(dǎo)的電阻,它的主要原理是利用激光電視,在恒定電壓之下進(jìn)行掃描,通過一部分能量轉(zhuǎn)化為熱能,可以關(guān)注它所發(fā)生的實(shí)際變化。這樣在檢測(cè)的過程當(dāng)中,效率就會(huì)得到大幅度的提高。因此在檢測(cè)芯片的過程當(dāng)中,其實(shí)有很多比較重要的方法,客戶可以去關(guān)注emmi檢測(cè)和他的分析方式,目前國(guó)內(nèi)關(guān)于芯片的檢測(cè)機(jī)構(gòu)并不是特別的成熟。


顯微觀察技術(shù)是一-種可以提供化學(xué)鍵合以及材料的分子結(jié)構(gòu)的相關(guān)信息的失效分析技術(shù),不論對(duì)象是有機(jī)物還是無機(jī)物。通常被用來確定樣品表面的未知材料,一般是用作對(duì)EDX分析的補(bǔ)充。蘇州特斯特電子科技有限公司,主要從事各類測(cè)試、檢測(cè)儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù),產(chǎn)品涵蓋電子元器件,電路板,線纜線束的測(cè)試與檢測(cè)。




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