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手持光譜儀帶你了解元素的特征信息

射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。

手持光譜儀的原理

在XRF分析法中，從光發(fā)射管里發(fā)射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進入彌補內層的空間。在這些電子從外層進入內層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉換過程中內層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時間內所發(fā)射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。

手持式光譜儀的常見問題解答

1、如何利用XRF技術進行檢測？

分析儀發(fā)出X射線。X射線撞擊到被測樣品，使樣品中的元素發(fā)出熒光，然后再返回到分析儀中的X射線探測器。分析儀對返回的X射線進行計數(shù)，并通過數(shù)學式運算，得出分析結果。

2、XRF分析儀的用途是什么？

XRF分析儀用于需要辨別材料的化學成分的應用中。便攜式XRF分析儀可在野外現(xiàn)場采用堪比實驗室的技術對那些龐大、笨重或運送成本很高的樣品進行檢測。在現(xiàn)場進行分析可以實時提供信息，使用戶迅速做出決策。