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大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

應用范圍■光學薄膜

?相位差膜、橢圓膜、相位差板

?偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光學材料

■液晶層

?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強誘電性液晶)

?反射型液晶層(TN,STN)

在相位差膜等光學膜中，要求有高透明性、低光彈性率、耐熱性、耐光性、高表面硬度、高機械強度、大相位差、相位差的波長依存性小，以及相位差的入射角依存性小等特性。以往，作為表現透明樹脂材料光學各向異性的方法，可以進行膜的拉伸配向。已知通過該拉伸配向，由聚甲i基丙i烯酸甲酯(P匿A)或聚乙烯(PS)所形成的膜顯示出負雙折射性，由聚^J吏酯(PC)或環(huán)烯烴類樹脂(COP)所形成的膜顯示出正雙折射性。

  本設備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自動XY-stage以及自動傾斜旋轉stage的2個Sample stage。Calibration時，自動set基準sample。

  本軟件，通過自動制御偏光三棱鏡單元和瞬間多通道測光檢出器以及自動ＸＹ平臺來實施cellgap檢查每個樣品都備有檢查菜單，并且樣品可自動運輸，操作員只需選擇檢查菜單便可輕松完成的測定。