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ELSZ粒徑測試儀免費(fèi)咨詢“本信息長期有效”

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發(fā)布時間:2020-12-31 07:57  

大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!

粒徑測量原理:動態(tài)光散射法(光子相關(guān)法)

溶液中的粒子會呈現(xiàn)出 依賴于粒徑的布朗運(yùn)動。因此,當(dāng)光照射到此粒子上而得到的散射光會出現(xiàn)浮動,小粒子浮動速度快,大粒子浮動速度慢。

通過光子相關(guān)法解析這種浮動,從而求出粒徑或粒度分布。




高濃度類樣品的ZETA電位測量原理

因受多重散射或吸收等的影響,用ELSZ series是很難測量光難以透過的濃厚樣品或有色樣品的。

現(xiàn)在,ELSZseries的標(biāo)準(zhǔn)cell可對應(yīng)低濃度類到高濃度類的大范圍的樣品測量。并且,通過采用了FST法*的高濃度類cell,可測量出高濃度樣品的ZETA電位。





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