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江蘇一六儀器 X射線熒光鍍層測厚儀
儀器簡介
XTU系列測厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊,但是都有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔,即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。
搭配微聚焦射線管和先進(jìn)的光路設(shè)計(jì),以及變焦算法裝置,可測試極微小和異形樣品。
檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·測量面積可達(dá)0.002mm2·深凹槽可達(dá)90mm。
外置的高精密微型滑軌,可以快速控制樣品移動(dòng),移動(dòng)精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的樣品測試都沒有難度,讓操作人員輕松自如。
應(yīng)用領(lǐng)域
線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測
鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析
手表、精密儀表制造行業(yè)
釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測
衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
電鍍液的金屬陽離子檢測
江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。
測厚范圍可測定厚度范圍:取決于用戶的具體應(yīng)用。測試膜,又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜,邁拉膜,麥拉膜,XRF測試薄膜,XRF樣品膜,樣品薄膜,EDX薄膜,EDX樣品薄膜,ROHS檢測膜,光譜儀樣品薄膜。將列表可測定的厚度范圍-基本分析功能無標(biāo)樣檢量線測厚,可采用一點(diǎn)或多點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)樣品自動(dòng)進(jìn)行基本參數(shù)方法校正。根據(jù)客戶本身應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素范圍:Ti22–U92可同時(shí)測定5層/15種元素/共存元素校正組成分析時(shí),可同時(shí)測定15種元素多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較元素光譜定性分析-調(diào)整和校正功能系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能:校正X射線管、探測器和電子線路的變化對(duì)分析結(jié)果的影響,自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移譜峰計(jì)數(shù)時(shí),峰漂移自動(dòng)校正功能譜峰死時(shí)間自動(dòng)校正功能譜峰脈沖堆積自動(dòng)剔除功能標(biāo)準(zhǔn)樣品和實(shí)測樣品間,密度校正功能譜峰重疊剝離和峰形擬合計(jì)算-測量自動(dòng)化功能(要求XY程控機(jī)構(gòu))鼠標(biāo)控制測量模式:'PointandShoot'多點(diǎn)自動(dòng)測量模式:隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測量模式測量位置預(yù)覽功能激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能-樣品臺(tái)程控功能(要求XY程控機(jī)構(gòu))設(shè)定測量點(diǎn)oneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile測量位置預(yù)覽
江蘇一六儀器 X射線熒光光譜測厚儀 一次性同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素
厚度di檢出限:0.005um
性能優(yōu)勢
精密的三維移動(dòng)平臺(tái)
的樣品觀測系統(tǒng)
先進(jìn)的圖像識(shí)別
輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動(dòng)切換
雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動(dòng)智能控制方式,一鍵式操作!
開機(jī)自動(dòng)退出自檢、復(fù)位
開蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái),升起Z軸測試平臺(tái),方便放樣
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái),下降Z軸測試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦
直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測試點(diǎn)
點(diǎn)擊軟件界面測試按鈕,自動(dòng)完成測試并顯示測試結(jié)果