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泰安光譜分析儀值得信賴【一六儀器】

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發(fā)布時間:2021-01-21 04:52  







江蘇一六儀器   X射線熒光測厚儀    十年以上研發(fā)團隊      集研發(fā)生產銷售一體

性能優(yōu)勢:

   下照式設計:可以快速方便地定位對焦樣品。

   無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測,凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件。

測厚儀

    測厚儀(thickness gauge )是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產中常用來連續(xù)或抽樣測量產品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的性厚度計;有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,滄州歐譜從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。


一六儀器  國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀  

一六儀器研發(fā)生產的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

涂層測厚儀操作規(guī)程有哪些

   我們在使用涂層測厚儀時,如果不了解涂層測厚儀的操作規(guī)程,那么就很容易出現(xiàn)一些問題,甚至嚴重的可能會對自身產生威脅,那么涂層測厚儀的操作規(guī)程有哪些,下面就來了解下先:

  一、技術參數

  采用了磁性和渦流兩種測厚方法。通過選擇相應的測頭,即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度,又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度;

  測量范圍:(0~1250)μm(F1、N1測頭),F(xiàn)10測頭可達10mm;

  分辨率:0.1μm(F1、N1測頭)

  示值精度:±(3%H 1)μm;H為被測涂層厚度

  顯示方法:高對比度的段碼液晶顯示,高亮度EL背光;

  存儲容量:可存儲20組(每組多50個測量數值)測量數據

  單位制:公制μm、英制(mil)、可自由轉換 ? 工作電壓:3V(2節(jié)5號堿性電池)

  持續(xù)工作時間:大于200小時(不開背光燈)

  通訊接口:USB1.1,可與PC機連接、通訊



一六儀器---鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃層膜厚儀

 率的jie shou qi :即使測試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性。

 精密微型滑軌:快速精準定位樣品。

 EFP先進算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

測厚儀和膜厚儀一樣嗎

測厚儀的原理:超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量,當探頭發(fā)射超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭,通過準確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。

膜厚儀:屬于測厚儀的一種,膜厚儀測量覆膜薄膜的厚度,手持式的有涂層測厚儀,為磁阻法和電渦流原理,臺式的不同原理也有好多種,電感原理等。






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