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光譜測(cè)厚儀歡迎來(lái)電“本信息長(zhǎng)期有效”

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發(fā)布時(shí)間:2020-08-06 16:31  







一六儀器 專(zhuān)業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車(chē)電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

軟件算法


?大致分為3個(gè)方法。一個(gè)是制作測(cè)量線(xiàn)的方法(經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法)。這個(gè)方法是測(cè)定幾點(diǎn)實(shí)際的已知厚度樣品,尋求想測(cè)定元素的熒光X射線(xiàn)強(qiáng)度和厚度之間的關(guān)系,以其結(jié)果為基礎(chǔ)測(cè)定未知樣品取得熒光X射線(xiàn),從而得到濃度值。

?另一個(gè)方法是理論演算的基礎(chǔ)參數(shù)法(FP法)。這個(gè)方法在完全了解樣品的構(gòu)成和元素種類(lèi)前提,利用計(jì)算的各個(gè)熒光X射線(xiàn)強(qiáng)度的理論值,推測(cè)測(cè)定得到未知樣品各個(gè)元素的熒光X射線(xiàn)強(qiáng)度的組成一致。

?NBS-GSC法也稱(chēng)作理論Alpha系數(shù)法。002um~100um左右,能測(cè)試5層以上膜厚,并且可以測(cè)量合金鍍層,也可分析鍍層元素和含量比。它是基于熒光X射線(xiàn)激發(fā)的基本原理,從理論上使用基本物理參數(shù)計(jì)算出樣品中每個(gè)元素的一次和二次特征X射線(xiàn)熒光強(qiáng)度的?;诖嗽儆?jì)算Lachance綜合校正系數(shù),然后使用這些理論α系數(shù)去校正元素間的吸收增強(qiáng)。它與經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法不同,這些校正系數(shù)是從“理論”上取得的,而非建立在“經(jīng)驗(yàn)”上。因而它也不需要那么多的標(biāo)樣,只要少數(shù)標(biāo)樣來(lái)校準(zhǔn)儀器因子。




一六儀器 專(zhuān)業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀

鍍層厚度分析儀又叫涂鍍層測(cè)量?jī)x、電鍍層測(cè)試儀、防腐層檢測(cè)儀、涂鍍層測(cè)試儀、涂鍍層測(cè)量?jī)x、油漆測(cè)厚儀價(jià)格、油漆層測(cè)厚儀、油漆膜厚儀、鋼結(jié)構(gòu)油漆層測(cè)厚儀、鋼板油漆測(cè)厚儀、鋼管油漆測(cè)厚儀、油漆防腐層測(cè)厚儀、油罐防腐層測(cè)厚儀可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層,規(guī)定以厚度為單位(而不是單位面積質(zhì)量)的標(biāo)準(zhǔn)塊,將是可靠的。涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測(cè)儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。

鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化,我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)鍍層厚度有了明確要求。



江蘇一六儀器有限公司是一家專(zhuān)注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名專(zhuān)家通力合作,研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

一六儀器  X熒光光譜測(cè)厚儀

鍍層分析X射線(xiàn)熒光光譜特點(diǎn)

     1.鍍層分析快速、無(wú)損,對(duì)樣品無(wú)需任何處理。一般測(cè)試一個(gè)點(diǎn)只需要數(shù)10S-1分鐘,分析精度高。

     2.可測(cè)試超薄的鍍層。

     3.可測(cè)試多鍍層,分析精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其他測(cè)量方法。

     4.可分析合金鍍層厚度。如果合金鍍層成分穩(wěn)定,選擇合適的對(duì)比分析樣品,就可以準(zhǔn)確的分析出合金鍍層的厚度。

     5.對(duì)于樣品可進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量,適合分析鍍層的厚度分布情況,并可以對(duì)樣品的復(fù)雜面進(jìn)行測(cè)量。

     6.對(duì)分析的多鍍層每層之間的材料,要求有明顯的區(qū)別

     7.不可以測(cè)試超厚樣品,普通金屬鍍層總厚度一般不超過(guò)40微米。

     8.可以對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試

     9.屬于對(duì)比分析儀器,測(cè)試不同的鍍層樣品需要不同發(fā)鍍層標(biāo)樣


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