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光譜膜厚儀產(chǎn)品介紹

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發(fā)布時(shí)間:2020-07-20 06:38  







一六儀器 專業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

X熒光鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片選擇與使用


1.一般要求

   使用可靠的參考標(biāo)準(zhǔn)塊校準(zhǔn)儀器。后的測(cè)量不確定度直接取決于校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊的測(cè)量不確定度和測(cè)量精度。

   參考標(biāo)準(zhǔn)塊應(yīng)具有的已知單位面積質(zhì)量或厚度的均勻的覆蓋層,如果是合金,則應(yīng)知其組成。參考標(biāo)準(zhǔn)塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過(guò)規(guī)定值的±5%.只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層,規(guī)定以厚度為單位(而不是單位面積質(zhì)量)的標(biāo)準(zhǔn)塊,將是可靠的。合金組成的測(cè)定,校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)不需要相同,但應(yīng)當(dāng)已知。GD-OES方法用惰性原子逐層轟擊及剝離試樣表層,再用發(fā)射光譜測(cè)定,這種方法可實(shí)現(xiàn)剖面或逐層分析,但測(cè)量重復(fù)性并不理想。

金屬箔標(biāo)準(zhǔn)片。如果使用金屬箔貼在特殊基體表面作標(biāo)準(zhǔn)片,就必須注意確保接觸清潔,無(wú)皺折紐結(jié)。任何密度差異,除非測(cè)量允許,否則必須進(jìn)行補(bǔ)償后再測(cè)。

2.標(biāo)準(zhǔn)塊的選擇

可用標(biāo)準(zhǔn)塊的單位面積厚度單位校準(zhǔn)儀器,厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來(lái)校正。標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)與被測(cè)試樣具有相同的覆蓋層和基體材料,但對(duì)試樣基材為合金成分的,有些儀器軟件允許標(biāo)樣基材可與被測(cè)試樣基材不同,但前提是標(biāo)準(zhǔn)塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。

3.標(biāo)準(zhǔn)塊的X射線發(fā)射(或吸收)特性及使用

   校正標(biāo)準(zhǔn)塊的覆蓋層應(yīng)與被測(cè)覆蓋層具有相同的X射線發(fā)射(或吸收)特性。

如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定,則厚度標(biāo)準(zhǔn)塊的基體應(yīng)與被測(cè)試樣的基體具有相同的X射線發(fā)射特性,通過(guò)比較被測(cè)試樣與校正參考標(biāo)準(zhǔn)塊的未鍍基體所選的特征輻射的強(qiáng)度,然后通過(guò)軟件達(dá)到對(duì)儀器的校正。



江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。 

能量色散X射線熒光光譜儀廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。   

光譜分析儀可以說(shuō)是檢測(cè)儀器中的“超能先生”,在生物、能源環(huán)境、食品安全等領(lǐng)域都能看到它的身影。以食品檢測(cè)為例,常買糧食的朋友應(yīng)該都知道,零食的包裝上有一個(gè)營(yíng)養(yǎng)成分表,用來(lái)向消費(fèi)者展示食品中的熱量、脂肪、蛋白質(zhì)、碳水化合物、鈉等主要營(yíng)養(yǎng)成分的含量,而這些數(shù)據(jù)的獲得就離不開光譜分析儀。儀器通過(guò)對(duì)物品材料發(fā)散近紅外線,活躍材料中的分子,通過(guò)分子振動(dòng)反射的光纖,根據(jù)光線的獨(dú)特光學(xué)特征識(shí)別,由此確認(rèn)材料的化學(xué)成分組成。放置樣品:打開測(cè)試腔,將樣品需要測(cè)試的一面大致朝向測(cè)試窗,邊觀察軟件測(cè)試畫面邊通過(guò)移動(dòng)平臺(tái)滑軌微調(diào)測(cè)試位置進(jìn)而達(dá)到測(cè)試要求位置11。

  我們身邊的儀器遠(yuǎn)不止此,或許正如動(dòng)畫中超人也有自己辦不到的事,科學(xué)儀器功能也有限,但相對(duì)的,儀器都有各自發(fā)光發(fā)熱的領(lǐng)域。不同的儀器在不同的領(lǐng)域各司其職,守護(hù)人類健康,為人類發(fā)展出力。

工業(yè)時(shí)代的科技是現(xiàn)代科技,科技是國(guó)之利器,國(guó)家要強(qiáng)大、人民生活要不斷改善,必須依托于強(qiáng)大科技??茖W(xué)儀器在我國(guó)科技發(fā)展中起到的重要作用是不容忽視的,希望未來(lái)能夠看到更多拔萃的科學(xué)儀器為我國(guó)科技發(fā)展做出貢獻(xiàn)。



       江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

       X熒光鍍層測(cè)厚儀金屬成分含量的測(cè)定

在包含某種元素1的樣品中,照射一次X射線,就會(huì)產(chǎn)生元素1的熒光X射線,不過(guò)這個(gè)時(shí)候的熒光X射線的強(qiáng)度會(huì)隨著樣品中元素1的含量的變化而改變。元素1的含量多,熒光X射線的強(qiáng)度就會(huì)變強(qiáng)。注意到這一點(diǎn),如果預(yù)先知道已知濃度樣品的熒光X射線強(qiáng)度,就可以推算出樣品中元素1的含量。采用定量分析的時(shí)候,可以在樣品中加入高純度的二氧化硅,作為參比樣,并且摻量是已知的。5x10、1x10、2x10、4x16等4測(cè)量斑點(diǎn)尺寸在12。這樣可以間接知道其他組分的含量。

      X射線熒光測(cè)厚儀操作注意事項(xiàng):

測(cè)厚儀操作時(shí)候需要注意的:


技術(shù)指標(biāo):

1 分析元素范圍:Cl(17)-U(92)

2 同時(shí)可分析多達(dá)5層鍍層以上

3 分析厚度檢出限高達(dá)0.01μm

4 多次測(cè)量重復(fù)性高可達(dá)0.01μm

5測(cè)量時(shí)間:5s-300s

6 計(jì)數(shù)率:0-8000cps

測(cè)厚儀操作流程


打開儀器開關(guān)----在電腦上開啟軟件-------開高壓鑰匙-------聯(lián)機(jī)------預(yù)熱-----峰位校正------新建程式------選擇相應(yīng)的程式-----測(cè)試樣品----出報(bào)告


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