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使用ICP光譜儀環(huán)境很重要

如果室內濕度過大，ICP光譜分析儀中的光學元件、光電元件、電子元件等受到潮濕后，易發(fā)生銹蝕、霉變等現象導致儀器接觸不良、性能下降，甚至報廢。潮濕的環(huán)境還容易使儀器的絕緣性能變差，產生不安全的因素。電器元件受潮后會降低絕緣性能，可用熱吹風吹干，禁止貿然使用，否則會擊穿電器元件發(fā)生短路造成光譜分析儀電路系統被燒毀。例如在ICP光譜分析儀光學系統里光柵因濕度過大容易受潮發(fā)毛燒壞出現電容打火、高頻發(fā)生器使等離子體不容易點燃等現象，嚴重時還會發(fā)生高壓電源和高壓電路放毀元件導致高頻發(fā)生器損害，如功率管被擊穿，輸出電路阻抗匹配、網絡中的可變電容放電等。

ICP光譜儀的目標元素

ICP光譜儀是上世紀60年代提出、70年代迅速發(fā)展起來的，它的迅速發(fā)展和廣泛應用是與其克服了經典光源和原子化器的局限性分不開的，那么ICP光譜儀的目標元素都有哪些呢？下面小編就來介紹一下：

ICP光譜儀軟質樣品（例如：銅、鋁、鋅、鉛）必須車削表面或用酒精濕磨.磨好的表面一定不要玷污（例如用手觸摸）.考慮到金屬熱漲冷縮效應,會影響光線穩(wěn)定性.溫度變化會影響儀器的熱平衡,對和一些電器件會造成不穩(wěn)定,若溫差較大對光路也會有影響.

ICP光譜儀對于鋼和鑄鐵（顆粒大小,對鋼是60到80之間,對鑄鐵是40到60之間）,建議用適合于本儀器樣品的砂紙干磨.砂紙一定不要被高合金含量的樣品污染（例如：應該先用于低合金樣品，再用于高合金樣品）.樣品必須在清潔的、規(guī)范的砂紙上磨（沒有先前激發(fā)處理留下的激發(fā)的痕跡）.樣品表面不能被拋光（適時更新用過的砂紙）.必須確保樣品在磨的過程中沒有過熱（樣品應該與砂紙只有短暫的接觸）。使用OMA分析光譜，測量準確迅速，方便，且靈敏度高，響應時間快，光譜分辨率高，測量結果可立即從顯示屏上讀出或由打印機，繪圖儀輸出。如果需要，樣品應該用水冷卻，再干燥，再盡可能短的時間干磨.

ICP光譜儀可用標樣中目標元素的“真實濃度”與分析線對和強度比（R）擬合工作曲線（校準曲線）。如果鐵含量變化過大，如高、中合金鋼，其影響不可忽略，需要用標樣中目標元素的“相對濃度”（或“濃度比”）與分析線對和強度比（R）擬合工作曲線，這就是我國光譜分析的前輩講的“誘導含量法”。如果希望用同一工作曲線同時分析高、中、低合金鋼，那就都要用“相對濃度”來校正基體含量的影響。頻率和輸入功率：激發(fā)溫度隨功率增大而，近似線性關系，在其他條件相同時，增加頻率，放電溫度降低。更進一步，如果既要校正基體含量的影響，又要校正共存元素的干擾，就應該用“表觀濃度”來擬合工作曲線。

ICP光譜儀雖然本身測量準確度很高，但測定試樣中元素含量時， 所得結果與真實含量通常不一致，存在一定誤差，并且受諸多因素的影響，有的材料本身含量就很低。

ICP光譜儀的使用和維護

對氣體控制系統的維護保養(yǎng)

ICP光譜儀氣體控制系統是否穩(wěn)定正常地運行，直接影響到儀器測定數據的好壞，如果氣路中有水珠、機械雜物雜屑等都會造成氣流不穩(wěn)定，因此，對氣體控制系統要經常進行檢查和維護。首先要做氣體試驗，打開氣體控制系統的電源開關，使電磁閥處于工作狀態(tài)，然后開啟氣瓶及減壓閥，使氣體壓力指示在額定值上，然后關閉氣瓶，觀察減壓閥上的壓力表指針，應在幾個小時內沒有下降或下降很少，否則氣路中有漏氣現象，需要檢查和排除。第二，由于氣中常夾雜有水分和其它雜質，管道和接頭中也會有一些機械碎屑脫落，造成氣路不暢通。光柵使用110mmX80mm大面積的3600刻線/mm的全息光柵，使單色儀的入射光為可利用的較大視角的平行光，提高了光通量，因此提高了穩(wěn)定性和信號強度。因此，需要定期進行清理，拔下某些區(qū)段管道，然后打開氣瓶，短促地放一段時間的氣體，將管道中的水珠，塵粒等吹出。在安裝氣體管道，特別是將載氣管路接在上時，要注意不要讓管子彎曲太厲害，否則載氣流量不穩(wěn)而造成脈動，影響測定。