ICT治具制作多重優(yōu)惠

ICT、FCT測(cè)試，PCBA測(cè)試方案與制程自動(dòng)化方案提供的企業(yè)，公司主要產(chǎn)品有： 測(cè)試治具（ICT治具、手動(dòng)治具、氣動(dòng)治具、電動(dòng)治具、工裝夾具、過(guò)爐載具）、ATE功能測(cè)試系統(tǒng)、 通用功能測(cè)試機(jī)、In line升級(jí)改造、自動(dòng)化方案（自動(dòng)測(cè)試線(xiàn)、自動(dòng)裝配線(xiàn)）、治具KIT、測(cè)試機(jī)柜、LED測(cè)試儀

新的開(kāi)發(fā)項(xiàng)目要求更加復(fù)雜、更大的PCBA和更緊密的包裝。這些要求挑戰(zhàn)我們建造和測(cè)試這些單元的能力。更進(jìn)一步，具有更小元件和更高節(jié)點(diǎn)數(shù)的更大電路板可能將會(huì)繼續(xù)。例如，正在畫(huà)電路板圖的一個(gè)設(shè)計(jì)，有大約116000個(gè)節(jié)點(diǎn)、超過(guò)5100個(gè)元件和超過(guò)37800個(gè)要求測(cè)試或確認(rèn)的焊接點(diǎn)。這個(gè)單元還有BGA在頂面與底面，BGA是緊接著的。使用傳統(tǒng)的針床測(cè)試這個(gè)尺寸和復(fù)雜性的板，ICT一種方法是不可能的。元件類(lèi)可檢查出元件值的超差、失效或損壞，Memory類(lèi)的程序錯(cuò)誤等。

測(cè)試治具測(cè)試針具有的3大功效：

　　1、獨(dú)有的永不間斷電接觸設(shè)計(jì)：行程超過(guò)或不足2/3其電性接觸皆能保持性低阻值，任何因探針導(dǎo)致的假性開(kāi)路誤叛。

　　2、增強(qiáng)耐用度：測(cè)試針設(shè)計(jì)使彈簧空間比傳統(tǒng)探針要大，因而可以達(dá)到更長(zhǎng)的壽命和容納更強(qiáng)的彈力。

　　3、目標(biāo)測(cè)點(diǎn)精準(zhǔn)度誤差更嚴(yán)謹(jǐn)：測(cè)試治具測(cè)試針能達(dá)到同類(lèi)型產(chǎn)品無(wú)法比擬的至目標(biāo)測(cè)點(diǎn)精準(zhǔn)度。

功能測(cè)試也叫黑盒測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試，只需考慮需要測(cè)試的各個(gè)功能，不需要考慮整個(gè)軟件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及代碼.一般從軟件產(chǎn)品的界面、架構(gòu)出發(fā)，按照需求編寫(xiě)出來(lái)的測(cè)試用例，輸入數(shù)據(jù)在預(yù)期結(jié)果和實(shí)際結(jié)果之間進(jìn)行評(píng)測(cè)，進(jìn)而提出更加使產(chǎn)品達(dá)到用戶(hù)使用的要求。*模擬被測(cè)鍵盤(pán)的鍵圖，依據(jù)不同的測(cè)試結(jié)果，用不同的顏色顯示各建的位置及鍵名，測(cè)試結(jié)果一目了然。

一種FCT測(cè)試系統(tǒng)，包括PC機(jī)、控制面板、測(cè)試裝置，與所述測(cè)試裝置連接的電壓源、電流源以及示波器，其中所述測(cè)試裝置還連接有信號(hào)發(fā)生器UPS，所述信號(hào)發(fā)生器UPS用于檢測(cè)電壓、電流、電阻、波形。本發(fā)明專(zhuān)利技術(shù)裝置通過(guò)安捷倫34980作為測(cè)試裝置，可以擴(kuò)展多個(gè)測(cè)試設(shè)備，提高了測(cè)試系統(tǒng)的擴(kuò)展性，同時(shí)使用PC機(jī)作為上位機(jī)，使得控制更加精準(zhǔn)，使用信號(hào)發(fā)生器UPS測(cè)試提高了測(cè)試的精度。ICT測(cè)試治具有單面雙面之分，通用天板方便交換機(jī)種，使用可調(diào)培林座，容易保養(yǎng)，使用壓克力&電木&FR-4材質(zhì)（或），直接文件處理生成鉆孔文件，保證鉆孔精度。