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1. 隨著智能終端設(shè)備以及智能汽車電子產(chǎn)品的興起,使封裝小型化和組裝的高密度化以及各種新型封裝技術(shù)更趨精益求精,x ray在電路組裝中用來(lái)檢測(cè)質(zhì)量的比重越來(lái)越大。
2. 其他如自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)、ICT針床測(cè)試、功能測(cè)試(FCT)、x ray射線檢測(cè)技術(shù)被廣泛應(yīng)用于SMT、LED、BGA、CSP倒裝芯片檢測(cè),半導(dǎo)體、封裝元器件、鋰電行業(yè),電子元器件、汽車零部件、光伏行業(yè),鋁壓鑄模鑄件、模壓塑料,陶瓷制品等特殊行業(yè)的檢測(cè)。
機(jī)器架構(gòu)及控制系統(tǒng)。在選購(gòu)X-ray設(shè)備時(shí),要看它的架構(gòu)是否依據(jù)用戶體會(huì)而規(guī)劃,是否能為用戶操作供給更好的便利,控制系統(tǒng)是X-ray設(shè)備。在選購(gòu)時(shí),挑選帶預(yù)覽導(dǎo)視功用、主動(dòng)定位檢視功用、選用鼠標(biāo)靈活操控的設(shè)備會(huì)愈加實(shí)用。
看品牌和售后服務(wù)。在選購(gòu)X-ray設(shè)備時(shí),要看品牌實(shí)力,實(shí)力好的品牌產(chǎn)品在質(zhì)量,技能方面會(huì)更有保證。同時(shí),還要了解品牌的售后服務(wù)是否完善,避免日后影響設(shè)備的維護(hù)與修理。
自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)是近幾年興起一種檢測(cè)方法。它是通過(guò)CCD照相的方式獲得器件或PCB的圖像,然后經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)的處理和分析比較來(lái)判斷缺陷和故障。其優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)速度快,編程時(shí)間較短,可以放到生產(chǎn)線中的不同位置,便于及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障和缺陷,使生產(chǎn)、檢測(cè)合二為一。不足是:不能檢測(cè)電路屬性,例如電路錯(cuò)誤,對(duì)不可見(jiàn)焊點(diǎn)檢測(cè)不到。
測(cè)試的準(zhǔn)備時(shí)間大大縮短。
能觀察到其他測(cè)試手段無(wú)法可靠探測(cè)到的缺陷,比如:虛焊、空氣孔和成型不良等。
對(duì)雙面板和多層板只需一次檢查(帶分層功能)。
提供相關(guān)測(cè)量信息,用來(lái)對(duì)生產(chǎn)工藝過(guò)程進(jìn)行評(píng)估。如焊膏厚度、焊點(diǎn)下的焊錫量等。
近幾年x-ray檢測(cè)設(shè)備有了較快的發(fā)展,已從過(guò)去的2D檢測(cè)發(fā)展到3D檢測(cè),具有SPC統(tǒng)計(jì)控制功能,能夠與裝配設(shè)備相連,實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)監(jiān)控裝配質(zhì)量。目前3D檢測(cè)設(shè)備按分層功能區(qū)分有兩大類:不帶分層功能與具有分層功能。