液晶電視數(shù)字芯片保修期多久高性價比的選擇「在線咨詢」

數(shù)IC設計產品類型？

對于當今所有的IC設計，DC Ultra 是可以利用的的綜合平臺。uRegion(III)被稱為磨耗期（Wear-Outperiod）在這個階段failurerate會快速升高，失效的原因就是產品的長期使用所造成的老化等。它擴展了DC Expert的功能，包括許多的綜合優(yōu)化算法，讓關鍵路徑的分析和優(yōu)化在的時間內完成。在其中集成的Module Compiler數(shù)據通路綜合技術， DC Ultra利用同樣的VHDL/Verilog流程，能夠創(chuàng)造處又快又小的電路。

DFT Compiler

DFT Compiler提供獨創(chuàng)的“一遍測試綜合”技術和方案。Region(II)被稱為使用期（Usefullifeperiod）在這個階段產品的failurerate保持穩(wěn)定，失效的原因往往是隨機的，比如溫度變化等等。它和Design Compiler 、Physical Compiler系列產品集成在一起的，包含功能強大的掃描式可測性設計分析、綜合和驗證技術。DFT Compiler可以使設計者在設計流程的前期，很快而且方便的實現(xiàn)高質量的測試分析，確保時序要求和測試覆蓋率要求同時得到滿足。DFT Compiler同時支持RTL級、門級的掃描測試設計規(guī)則的檢查，以及給予約束的掃描鏈插入和優(yōu)化，同時進行失效覆蓋的分析。

Power Compiler

Power Compiler?提供簡便的功耗優(yōu)化能力，能夠自動將設計的功耗化，提供綜合前的功耗預估能力，讓設計者可以更好的規(guī)劃功耗分布，在短時間內完成低功耗設計。1奈米，在10奈米的情況下，一條線只有不到100顆原子，在制作上相當困難，而且只要有一個原子的缺陷，像是在制作過程中有原子掉出或是有雜質，就會產生不的現(xiàn)象，影響產品的良率。Power Compiler嵌入Design Compiler/Physical Compiler之上，是業(yè)界可以同時優(yōu)化時序、功耗和面積的綜合工具。

FPGA Compiler II

FPGA Compiler II是一個專用于快速開發(fā)高品質FPGA產品的邏輯綜合工具，可以根據設計者的約束條件，針對特定的FPGA結構（物理結構）在性能與面積方面對設計進行優(yōu)化，自動地完成電路的邏輯實現(xiàn)過程，從而大大降低了FPGA設計的復雜度。質量（Quality）就是產品性能的測量，它回答了一個產品是否合乎規(guī)格（SPEC）的要求，是否符合各項性能指標的問題。

數(shù)字IC產品性能評價

當今的信息社會是數(shù)字化的社會，是數(shù)字IC(微處理器、存儲器、標準邏輯電路)廣泛應用的社會。主要的工具有：LEDALEDA是可編程的語法和設計規(guī)范檢查工具，它能夠對全芯片的VHDL和Verilog描述、或者兩者混合描述進行檢查，加速SoC的設計流程。面對龐大的數(shù)字IC產品，如何客觀的、定量的評價它的性能水平成了一項重要任務。當前，對數(shù)字IC產品的評價多是依據單一指標，或是一些主觀性評價，缺乏科學、系統(tǒng)、客觀的綜合評價，后得到的評價結論通用性差，不利于進行水平對比。

 針對這種現(xiàn)狀，研究了數(shù)字IC產品性能評價模型，并著重探討了數(shù)字IC產品性能的指標體系的構建、評價模型方法分析與BP-PCA評價模型三個方面的內容。Filler指的是標準單元庫和I/OPad庫中定義的與邏輯無關的填充物，用來填充標準單元和標準單元之間，I/OPad和I/OPad之間的間隙，它主要是把擴散層連接起來，滿足DRC規(guī)則和設計需要。首先提出了數(shù)字IC產品性能評價指標體系應具有的功能、設計時的思想原則，并根據這些思想原則建立了初步的數(shù)字IC產品的指標體系；然后分析了傳統(tǒng)單一的PCA模型評價時的不足，并提出了改進評價模型的兩種思路。

在對比這兩種思路之后，創(chuàng)新性地提出了BP-PCA評價模型；后，深入研究了BP-PCA評價模型，并構建了一個綜合的、系統(tǒng)的數(shù)字IC評價模型。net）更重要的是，藉由這個方法可以增加Gate端和下層的接觸面積。通過該方法模型，能夠模擬專家評價的方式以對任何數(shù)字IC產品進行評價，是客觀性和現(xiàn)實性的統(tǒng)一。實證研究表明，應用BP-PCA建模方法建立的評價模型，不僅具有良好的評價效果、較好的通用、開放性與時新性等特點，而且可操作性很強。

ESD保護電路的數(shù)字邏輯芯片檢測

數(shù)字電子技術是普通高校電子類相關專業(yè)的必修課程,主要包含組合邏輯電路和時序邏輯電路兩部分內容及其應用。NanoSim(Star-SIMXT)NanoSim集成了業(yè)界的電路技術，支持Verilog-A和對VCS器的接口，能夠進行電路的工具，其中包括存儲器和混合信號的。數(shù)字電子技術又是一門實踐性很強的課程,需要學生動手做實驗來加深對數(shù)字邏輯芯片工作原理的理解。數(shù)字電路實驗離不開數(shù)字邏輯芯片,很多高校每年都會采購一批數(shù)字邏輯芯片,芯片復用率很低,造成了數(shù)字邏輯芯片的嚴重浪費。

數(shù)字電路實驗會使用到許多不同類型的數(shù)字邏輯芯片。對電路的要求不同數(shù)電：是實現(xiàn)輸入輸出的數(shù)字量之間實現(xiàn)一定的邏輯關系。由于儲存方法不當、實驗平臺不完善、學生不規(guī)范操作等原因,數(shù)字邏輯芯片經常發(fā)生損壞。由于其故障類型多樣、檢測過程繁瑣,因此實驗室管理人員難以及時排查故障芯片。本文基于芯片ESD保護原理、故障字典法研究設計了一種數(shù)字邏輯芯片自動化檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)可檢測數(shù)字邏輯芯片是否有短路、斷路和邏輯功能錯誤等故障,并可確定具體的故障引腳位置,通過LCD液晶屏或上位機將檢測結果展示給用戶。經過實際的試驗和數(shù)據分析可以得出:該檢測系統(tǒng)可以較好地檢測數(shù)字邏輯芯片故障,單枚芯片檢測時間大約為3秒,且檢測準確率高達99.4%、運行功耗低至0.44W。非常適合在開設數(shù)字電子技術課程的高校中推廣應用,同時也可用于芯片制造公司的成品檢測。