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發(fā)布時(shí)間:2020-12-30 07:14  






紅外測溫儀的發(fā)展

六十年代早期,瑞典研制成功第二代紅外成像裝置,它是在紅外尋視系統(tǒng)的基礎(chǔ)上以增加了測溫的功能,稱之為紅外熱像儀。紅外測溫儀工作原理二一切溫度高于絕1對(duì)零度的物體都在不停地向周圍空間發(fā)出紅外輻射能量。開始由于保密的原因,在發(fā)達(dá)的國家中也于軍1用,投入應(yīng)用的熱成像裝置可在黑夜或濃厚幕云霧中探測對(duì)方的目標(biāo),探測偽裝的目標(biāo)和高速運(yùn)動(dòng)的目標(biāo)。由于有國家經(jīng)費(fèi)的支撐,投入的研制開發(fā)費(fèi)用很大,儀器的成本也很高。以后考慮到在工業(yè)生產(chǎn)發(fā)展中的實(shí)用性,結(jié)合工業(yè)紅外探測的特點(diǎn),采取壓縮儀器造價(jià)。降低生產(chǎn)成本并根據(jù)民用的要求,通過減小掃描速度來提高圖像分辨率等措施逐漸發(fā)展到民用領(lǐng)域。




紅外測溫儀的使用要點(diǎn)四

確定波長范圍

目標(biāo)材料的發(fā)射率和表面特性決定測溫儀的光譜相應(yīng)波長對(duì)于高反射率合金材料,有低的或變化的發(fā)射率。二次世界1大戰(zhàn)后,首先由美國經(jīng)過近一年的探索,開發(fā)研制的第1一代用于軍事領(lǐng)域的紅外成像裝置,稱之為紅外尋視系統(tǒng)(FLIR),它是利用光學(xué)機(jī)械系統(tǒng)對(duì)被測目標(biāo)的紅外輻射掃描。在高溫區(qū),測量金屬材料的較佳波長是近紅外,可選用0.8~1.0μm。其他溫區(qū)可選用1.6μm,2.2μm和3.9μm。由于有些材料在一定波長上是透明的,紅外能量會(huì)穿透這些材料,對(duì)這種材料應(yīng)選擇特殊的波長。如測量玻璃內(nèi)部溫度選用1.0μm,2.2μm和3.9μm(被測玻璃要很厚,否則會(huì)透過)波長;測玻璃表面溫度選用5.0μm;測低溫區(qū)選用8~14μm為宜。如測量聚乙烯塑料薄膜選用3.43μm,聚酯類選用4.3μm或7.9μm,厚度超過0.4mm的選用8-14μm。如測火焰中的CO用窄帶4.64μm,測火焰中的NO2用4.47μm。




紅外測溫儀的使用要點(diǎn)八

紅外測溫技術(shù)在生產(chǎn)過程中,在產(chǎn)品質(zhì)量控制和監(jiān)測,設(shè)備在線故障診斷和安全保護(hù)以及節(jié)約能源等方面發(fā)揮了著重要作用。

紅外輻射測溫儀的標(biāo)定

紅外測溫儀必須經(jīng)過標(biāo)定才能使它正確地顯示出被測目標(biāo)的溫度。一般的紅外測溫的校準(zhǔn)周期是一年,建議選用腔形,發(fā)射率達(dá)到0.995的黑體爐,才能準(zhǔn)確的校準(zhǔn)紅外測溫儀。如果所用的測溫儀在使用中出現(xiàn)測溫超差,則需退回廠家或維修中心重新標(biāo)定。




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