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帶你了解現(xiàn)代科研中的顯微鏡

場離子顯微鏡 　　場離子顯微鏡（Field ion microscope，F(xiàn)IM）是早達到原子分辨率，也就是早能看得到原子尺度的顯微鏡。 帶你了解現(xiàn)代科研中的顯微鏡 　　如果要用FIM看像，樣品得先處理成針狀，針的末端曲率半徑約在200-1000埃。工作時首先將容器抽到1.33×10^(-6)Pa的真空度，然后通入壓力約1.33×10^(-1)Pa的成像氣體例如惰性氣體氦。在樣品加上足夠高的電壓時，氣體原子發(fā)生極化和電離；在低溫環(huán)境下，熒光屏上即可顯示表層原子的清晰圖像，圖像中每一個亮點都是單個原子的像。 帶你了解現(xiàn)代科研中的顯微鏡 　　通過惰性氣體電離便可以觀察試樣表面的原子排列情況, 同時還可以控制試樣上的原子以離子形式蒸發(fā)離開表面(稱為場蒸發(fā)） 　　簡單來說，氣體原子在樣品的電離飛出打在熒光屏上，這些熒光屏上的點便表示了樣品（其實主要是半球形）的原子排布。因此，F(xiàn)IM被稱為原子級別的顯微鏡。

偏光鏡檢術的方式及要求

偏光鏡檢術的方式 正相鏡檢：又稱無畸變鏡檢，其特點是使用低倍物鏡，不用伯特蘭透鏡，同時為使照明孔徑變小，推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用于檢查物體的雙折射性。 錐光鏡檢：又稱干涉鏡檢，這種方法用于觀察物體的單軸或雙軸性。 顯微鏡的分類和特點 偏光顯微鏡在裝置上的要求 1、光源：采用單色光，因為光的速度，折射率和干涉現(xiàn)像因波長的不同而有差異。 2、目鏡：要帶有十字線的目鏡。 3、聚光鏡：為了取得平行偏光，應使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。 4、伯特蘭透鏡：這是把物體所有造成的初級相放大為次級相的輔助透鏡。

超越原子級的分辨率,對理解重要的幾類材料非常關鍵

超越原子級的分辨率，對理解重要的幾類材料非常關鍵，比如超導體、磁體和催化劑等。理論上來說，原子應均勻地整齊排列，但原子的實際位置常常會有小的偏差，這使得材料可以存儲電荷、信息和能量，比如用作計算機存儲芯片的鐵電氧化物（ferroelectric oxide）和用作固態(tài)燃料電池的電催化氧化物（electrocatalytic oxide）。納米金屬（nanophase metal）、陶瓷、合金、太陽能電池、蓄電池和不同類型的玻璃，這些材料的原子排列非常復雜，現(xiàn)有技術還無法進行觀測。

不同材料間的界面部分

不同材料間的界面部分，比如磁體與超導體的界面，或者氧化物與氧化物間的連接部分，都可能顯示出導電性、化學反應活性、超導性和鐵磁性等性能，而這些性能是單獨一種材料所不具備的。因此，我們需要從三個維度分別對材料的鍵長和鍵角進行更精密的測量，從而更進一步地研究材料性質，以便將這些材料用于下一代能量和信息技術設備。