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FE3000反射式膜厚量測儀:產品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜,分析多層薄膜厚度、光學常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。
可在軟件上設定激發(fā)光源的波長及步值,實現(xiàn)自動測量
電流-量子效率曲線
電流-光通量曲線
電流-功率曲線
電流-色溫曲線
電流-色坐標曲線
電流-顯色性曲線
電流-電壓曲線
大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!
石英材質液體比色皿,光學透過率大于98%,全波段無熒光反應,用于液體樣品測試(3個)。尺寸:12.5mm*12.5mm*140mm
半積分球。大塚電子獨有專利,提高積分球測試效率一倍,更易于樣品的裝夾,切換迅速(世界范圍內獨i家);(2)多次激發(fā)修正。大塚電子獨有專利,i大程度降低樣品所反射的激發(fā)光再次照射樣品帶來的多次激發(fā), 對粉末和固體測試精度提高明顯(世界范圍內獨i家);(3)光譜可擴展, 光譜探測范圍可擴展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升級配備控溫系統(tǒng)(-30℃-300℃)
不銹鋼樣品池及石英材質光學窗口,光學透過率大于98%,全波段無熒光反應,用于固體、粉末及薄膜樣品測試(數(shù)量5個),尺寸直徑≤10mm
光纖在極度彎曲后會有可能發(fā)生斷裂。故,請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內,然后放入積分半球內。粉狀物用cell用磁鐵固定在樣品口上(使用溫控系統(tǒng)時用無磁鐵的夾具固定)。Xe激發(fā)光(投光光纖)的照射位置可由積分球上方放置的監(jiān)控窗口(圖上顯示)來進行確認。請將激發(fā)波長設置到可視光范圍內確認。