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光學(xué)影像測量儀檢測是一種常見測量技術(shù),通過提供了量化的圖像測量方式,獲得測量數(shù)據(jù),從而對零部件公差尺寸進(jìn)行把控,是機(jī)械、電子制造業(yè),計(jì)量測試所廣泛使用的一種多用途計(jì)量儀器。
影像測量儀的誤差來源有哪些呢? (1)光柵尺記數(shù)的偏差; (2)操作臺挪動時存有的平行度、角擺產(chǎn)生的偏差; (3)操作臺兩精l確測量軸平整度帶的偏差; (4)攝像鏡頭直線光軸與操作臺不垂直帶的偏差; (5)精l確測量工作溫度轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的偏差; (6)燈源照明燈具標(biāo)準(zhǔn)的轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的自動對焦和指向偏差。
2.5次元影像測量儀與二次元影像儀的區(qū)別有哪些呢?
2.5次元測量儀,是指在二次元的基礎(chǔ)上,以光學(xué)影像測量可測高度及深度,或者在鏡頭上加個測針,用光學(xué)鏡頭測量平面尺寸、用測針進(jìn)行接觸式測量可測深度,達(dá)到3維測量的效果,但此3維測量僅是簡易的3D測量,未能真正地實(shí)現(xiàn)3維全部空間尺寸的測量,因此被稱為2.5次元。
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