FE-大塚電子公司-FE3000設(shè)備

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

產(chǎn)品特點(diǎn)非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計(jì)。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，F(xiàn)E-3000，分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。寬闊的波長量測范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測范圍。(1nm~250μm)對應(yīng)顯微鏡下的微距量測口徑。

FE3000反射式膜厚量測儀原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實(shí)現(xiàn)任意波段的激發(fā)光并以此來照射熒光材料樣品，F(xiàn)E3000設(shè)備，再以光譜儀對產(chǎn)生的發(fā)光光譜進(jìn)行測試并對其熒光材料特性做出評價(jià)。本系統(tǒng)采用了具有高靈敏度、高穩(wěn)定的本公司的光譜儀對光譜進(jìn)行測量。

關(guān)于冷卻水的更換沒有特定的時間要求，可目視，F(xiàn)E，發(fā)現(xiàn)水有污垢時請更換冷卻水。更換時請用自來水或是軟水（不可使用純水，如使用純水，會和空氣中的CO2結(jié)合形成酸性環(huán)境，從而導(dǎo)致冷卻裝置內(nèi)部遭到腐蝕）。

FE3000反射式膜厚量測儀:產(chǎn)品特點(diǎn)非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計(jì)。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。

可在軟件上設(shè)定激發(fā)光源的波長及步值，實(shí)現(xiàn)自動測量

電流-效率曲線

電流-光通量曲線

電流-功率曲線

電流-色溫曲線

電流-色坐標(biāo)曲線

電流-顯色性曲線

電流-電壓曲線

FE-大塚電子公司-FE3000設(shè)備由大塚電子(蘇州）有限公司提供。大塚電子(蘇州）有限公司有實(shí)力，信譽(yù)好，在江蘇 蘇州 的機(jī)械加工等行業(yè)積累了大批忠誠的客戶。公司精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念將促進(jìn)大塚電子和您攜手步入**，共創(chuàng)美好未來！