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熔接完成之后,將顯示估算的熔接損耗。熔接損耗受下頁(yè)中列出的因素影響。這些因素在計(jì)算和估算熔接損耗時(shí)會(huì)被考慮進(jìn)去。對(duì)熔接損耗的計(jì)算是基于一些空間的參數(shù)來(lái)計(jì)算,比如:模場(chǎng)直徑。當(dāng)熔接損耗或者是切割角度中的任何一個(gè)值超過(guò)它的設(shè)定極限的時(shí)候,熔接機(jī)都會(huì)顯示一個(gè)錯(cuò)誤信息。如果熔接后的光纖被檢查出有反常情況,比如:過(guò)粗,過(guò)細(xì),藤倉(cāng)60s光纖熔接機(jī)維修,或者有氣泡,熔接機(jī)會(huì)顯示一個(gè)錯(cuò)誤信息。當(dāng)沒(méi)有錯(cuò)誤的信息顯示,但是通過(guò)顯示器觀察發(fā)現(xiàn)熔接的結(jié)果很差的時(shí)候,藤倉(cāng)帶狀光纖熔接機(jī)維修,建議重新熔接。熔接點(diǎn)有時(shí)看起來(lái)比其余部分稍粗,這屬于正常的熔接,并不影響熔接損耗。要想改變光纖切割角度和估算熔接損耗的極限值,請(qǐng)參照[熔接模式]。錯(cuò)誤信息,例如“估算熔接損耗”,“熔接角度”,“過(guò)粗”,“過(guò)細(xì)”以及“氣泡”等,能夠被忽略。這些功能可以被設(shè)置為“不可用”。在一些情況下,追加放電可以改善熔接損耗。按來(lái)進(jìn)行追加放電,此時(shí),接損耗會(huì)被重新的估算,同時(shí)重新對(duì)光纖進(jìn)行檢查。在一些情況下,追加放電會(huì)增大熔接損耗,可以把追加放電設(shè)置為“不可用”,湘西藤倉(cāng)60s光纖熔接機(jī)維修,或者限制放電的數(shù)目。熔接損耗增大
放電程序測(cè)試
(1)熔接機(jī)內(nèi)置放電試驗(yàn)系統(tǒng)。使用者應(yīng)定期操作,以確保穩(wěn)定的融接質(zhì)量。在以下條件下使用熔接機(jī)時(shí),也應(yīng)進(jìn)行放電試驗(yàn):超高溫、超低溫、極干燥、極潮濕環(huán)境,電極劣化,光纖接續(xù),光纖熔接機(jī),清潔及更換電極后,或上述條件同時(shí)存在的情況下。
(2)放電試驗(yàn)也按特定的熔接程序?qū)Ψ烹姀?qiáng)度的要求,自動(dòng)調(diào)節(jié)放電參數(shù),并根據(jù)放電高溫區(qū)域調(diào)整光纖中心位置。
(3)放電試驗(yàn)需要使用兩根準(zhǔn)備接續(xù)的光纖。按照一般熔接的方法對(duì)光纖剝纖、切斷和放置(參見(jiàn)6頁(yè)§3.4制備光纖)。
程序測(cè)試
大氣的條件如溫度、濕度和氣壓經(jīng)常發(fā)生變化,會(huì)造成不同的電弧溫度。
由于電極的磨損和光纖碎屑粘結(jié)而造成的放電強(qiáng)度的改變不能自動(dòng)修正。而且放電中心位置有時(shí)會(huì)向左或向右移動(dòng)。
在以下條件下使用熔接機(jī)時(shí),也應(yīng)進(jìn)行放電試驗(yàn):超高溫、超低溫、極干
燥、極潮濕環(huán)境,電極劣化,光纖
接續(xù),清潔及更換電極后,或上述條件
同時(shí)存在的情況下。
放電試驗(yàn)也按特定的熔接程序?qū)Ψ烹姀?qiáng)度的要求,自動(dòng)調(diào)節(jié)放電參數(shù),并根據(jù)放電高溫區(qū)域調(diào)整光纖中心位置。步驟:
(1)放電試驗(yàn)需要使用兩根準(zhǔn)備
接續(xù)的光纖。按照一般熔接的方法對(duì)
光纖剝纖、切斷和放置(參見(jiàn)5頁(yè)
制備光纖)。
(2)在待機(jī)狀態(tài)下,按<>鍵
進(jìn)入“設(shè)置菜單”,上下箭頭移到“程序測(cè)試”,再按<>鍵開(kāi)始放電試驗(yàn)。
(3)放電試驗(yàn)自動(dòng)進(jìn)行放電強(qiáng)度調(diào)。
重復(fù)試驗(yàn)直到屏幕顯示“放電良好。
(4)程序測(cè)試完畢后,按<>鍵熔接機(jī)復(fù)位,并返回自動(dòng)融接狀態(tài)。
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