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大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!
什么是液晶分子預(yù)傾角以及液晶分子預(yù)傾角對(duì)電光特性的影響,說明了精準(zhǔn)測(cè)量液晶分子預(yù)傾角對(duì)現(xiàn)有液晶顯示器生產(chǎn)和進(jìn)一步研究液晶顯示技術(shù)有著重要的意義。緊接著文章對(duì)現(xiàn)有的液晶分子預(yù)傾角測(cè)量方法進(jìn)行了概述,并且給出了幾種創(chuàng)新性的測(cè)量方法。 晶體旋轉(zhuǎn)法是目前廣泛使用的方法,它測(cè)試精度高,測(cè)試速度快,得到人們的認(rèn)可。
請(qǐng)問偏光片上的偏光膜的成分是什么?
PVA(polyvinylalcohol),聚乙烯醇的延伸特性具有偏光的作用,因此普遍被當(dāng)為偏光基材。
由於PVA在經(jīng)過延伸之后,通常機(jī)械性質(zhì)會(huì)降低,變得容易碎裂,故當(dāng)偏光基質(zhì)延展成膜后,兩側(cè)通常會(huì)鍍上一層TAC(triacetyl-cellulose,三醋酸纖維)膜,一方面可以保護(hù),另一方面則可以防止PVA膜的回縮。
相位差光學(xué)材料量
產(chǎn)品特點(diǎn):可更加精準(zhǔn)的量測(cè)低相位差(0.1nm~)適合作為評(píng)估相位差的波長(zhǎng)分散、自動(dòng)檢測(cè)配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測(cè)器采用多頻譜分光光譜儀,展現(xiàn)任一個(gè)波長(zhǎng)的相位差量測(cè)。
光學(xué)薄膜
?相位差膜、橢圓膜、相位差板
?偏光膜、附加功效偏光膜、偏光板、別的光學(xué)資料
■液晶層
?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強(qiáng)誘電性液晶)
?反射型液晶層(TN,STN)
本裝置是photonic結(jié)晶偏光子arrayh和CCD camera構(gòu)成的專用偏光計(jì)測(cè)模組和透過偏光光學(xué)系相結(jié)合進(jìn)行測(cè)定橢圓率,方位角、從偏光film.位相差film貼合品的兩面之測(cè)定,進(jìn)而演算其吸收軸,光軸,相對(duì)角、RE的裝置。
本設(shè)備是利用瞬間多通道測(cè)光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測(cè)量透過型封入完成后的LCD Cell(TN,IPS,MVA)的Gap以及Pre-tilt角。附有自動(dòng)XY-stage以及自動(dòng)傾斜旋轉(zhuǎn)stage的2個(gè)Sample stage。Calibration時(shí),自動(dòng)set基準(zhǔn)sample。