紹興測厚儀產(chǎn)品介紹,一六儀器有限公司

儀一六儀器 快速精準分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進的解譜方法，解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析，

微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件.

測厚儀分類：

一、磁性式

二、渦電流式

三、紅外測厚儀

四、電解式（庫倫法）

五、金相測試法

六、非破壞熒光式（X光）

具體講下渦流測厚儀原理如下：

1.渦流測厚儀當載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于高頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦liu產(chǎn)生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。1、鋼結(jié)構(gòu)柱、梁,在構(gòu)件長度方向內(nèi)每隔1m取一截面,測試構(gòu)件各表面的涂層厚度,計算所有測點的平均值作為該根構(gòu)件的涂刷厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

2.同位素測厚儀利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

影響涂層測厚儀精準度的因素有哪些

    影響涂層測厚儀精準度的因素有哪些？生產(chǎn)產(chǎn)品過程中，可能就因為一點點的誤差，可能這批產(chǎn)品就成了報廢品，而這種情況在批量生產(chǎn)的廠家中為常見，也是需要注意的一個點。因此我們也就得對影響涂層測厚儀精準度的因素有所了解了。

(2)強磁場的干擾。我們曾做過一個簡單實驗，當儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時，測量會受到嚴重的干擾。如果離電磁場非常近時還有可能會發(fā)生死機現(xiàn)象。

   (3)人為因素。這中情況經(jīng)常會發(fā)生在新用戶的身上。涂層測厚儀之所以能夠測量到微米級就因為它能夠采取磁通量的微小變化，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號。

江蘇一六儀器有限公司是一家光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的企業(yè)。2、關(guān)機:掃描儀：如遇突發(fā)事件，應(yīng)立即按下急停開關(guān)，停止掃描。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。歡迎咨詢聯(lián)系！

如何選擇測厚儀的測點

    如何選擇測厚儀的測點位置？我們想要使用測厚儀測量物品厚度，前提是有測點位置，相當于我們的需要選擇一個固為零值一樣，如此才能夠測量出具體厚度。

 1、鋼結(jié)構(gòu)柱、梁,在構(gòu)件長度方向內(nèi)每隔1m取一截面,測試構(gòu)件各表面的涂層厚度,計算所有測點的平均值作為該根構(gòu)件的涂刷厚度.

   2、桁架結(jié)構(gòu)、梁,在上、下弦和腹桿的長度方向內(nèi)每隔1m取一個截面,測定桿件各表面的涂層厚度,計算所有測點的平均值作為該根構(gòu)件的涂層厚度.頂板和鋼樓梯,在每平方范圍內(nèi)選取5個點進行測定,計算所有測點的平均值作為該構(gòu)件的涂層厚度.

一六儀器---鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃?qū)幽ず駜x

儀器規(guī)格：

外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長x寬x高）

樣品倉尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長x寬x高）

儀器重量 ：55kg

供電電源 ：交流220±5V

da功率 ：330W

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境相對濕度：<70%

測厚儀和膜厚儀一樣嗎

   測厚儀和膜厚儀是不一樣的，膜厚儀屬于測厚儀的分類，也就是說測厚儀是膜厚儀的上司一樣，對此我們也可以來了解下測厚儀跟膜厚儀的一些概念：

測厚儀按原理分類:激光測厚儀、超聲波測厚儀、X射線測厚儀、壓力測厚儀、白光干涉測厚儀、電解式測厚儀、機械接觸式測厚儀。

測厚儀的原理：超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量，當探頭發(fā)射超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過準確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。下面就來了解下：1、測厚儀原理--激光測厚儀激光測厚儀：此類測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。