沈陽(yáng)淺孔內(nèi)徑測(cè)量?jī)x采購(gòu)常用指南,天津桂量量具

定壓機(jī)構(gòu) 18 是將測(cè)微套筒 17 的旋轉(zhuǎn)傳遞到測(cè)桿 15 并對(duì)測(cè)桿 15 施加規(guī)定以上的負(fù)載時(shí)，通過(guò)使測(cè)微套筒 17 相對(duì)于測(cè)桿 15 空轉(zhuǎn)而使測(cè)量壓恒定的機(jī)構(gòu)。該定壓機(jī)構(gòu) 18 包括與螺孔 152 螺紋配合的支承軸 181、被該支承軸 181 可旋轉(zhuǎn)地支承在測(cè)微套筒 17 外周的棘輪套筒 182、將棘輪套筒 182 向支承軸 181 側(cè)施力的螺旋彈簧 184。

在棘輪套筒182旋轉(zhuǎn)時(shí)，棘輪套筒182被螺旋彈簧184向支承軸181側(cè)施力，因此，測(cè)微套筒 17 也一起旋轉(zhuǎn)。在對(duì)測(cè)桿 15 施加規(guī)定以上的負(fù)載的狀態(tài)下，棘輪套筒 182 相對(duì)于支承軸 181 空轉(zhuǎn)，因此，能夠以恒定壓力進(jìn)行測(cè)量。

測(cè)量時(shí)注意事項(xiàng)：

A：測(cè)量時(shí)必須注意溫度的影響， 在測(cè)量過(guò)程中避免測(cè)量過(guò)程時(shí)間過(guò)長(zhǎng)和用手大面積接觸內(nèi)徑千分尺。尤其是大尺寸測(cè)量時(shí)要特別注意。

B： 由于內(nèi)徑千分尺沒(méi)有測(cè)力裝置，要掌握好測(cè)力的大小。要?jiǎng)偤媒佑|到被測(cè)表面，避免旋轉(zhuǎn)力過(guò)大損壞千分尺或造成很大誤差。

C：用內(nèi)徑千分尺測(cè)量孔徑時(shí)，被測(cè)表面必須擦拭干凈同時(shí)每一截面至少要在相互垂直的兩個(gè)方向上進(jìn)行，深孔要適當(dāng)增加截面數(shù)量。

作為測(cè)量被測(cè)量物的內(nèi)徑的裝置，有被稱作孔徑測(cè)量器的內(nèi)徑測(cè)量器。該內(nèi)徑測(cè)量器包括主體、具有與該主體螺紋配合的螺紋部且沿軸向進(jìn)退的測(cè)桿、設(shè)置于主體且沿與測(cè)桿的軸向大致正交的方向進(jìn)退的多個(gè)測(cè)量觸頭、和設(shè)置在這些測(cè)量觸頭與測(cè)桿之間且隨著測(cè)桿的軸向的進(jìn)退使測(cè)量觸頭沿與測(cè)桿的軸向大致正交的方向進(jìn)退的圓錐構(gòu)件。在該內(nèi)徑測(cè)量器中，設(shè)置于測(cè)桿的螺紋部的導(dǎo)程為 0.5mm，而且為了使測(cè)量觸頭的移動(dòng)量與測(cè)桿的進(jìn)退量相等，圓錐構(gòu)件的圓錐角 α 通常為大致 53 度。即，( 一個(gè)測(cè)量觸頭的移動(dòng)量 ) ＝ ( 測(cè)桿的進(jìn)退量 )×tan(α×1/2)，由于 tan(53×1/2) ≈ 0.5，因此，通過(guò)使圓錐角 α 為大致 53 度，測(cè)量觸頭的移動(dòng)量 ( 多個(gè)測(cè)量觸頭中的兩個(gè)測(cè)量觸頭的移動(dòng)量的合計(jì) ) 與測(cè)桿的進(jìn)退量相等。在這樣的內(nèi)徑測(cè)量器中，由于測(cè)桿的螺紋部的導(dǎo)程為 0.5mm，因此，測(cè)量者在測(cè)量很多的大小各異的被測(cè)量物時(shí)，為了使測(cè)量觸頭進(jìn)退而需要使測(cè)桿的螺紋部旋轉(zhuǎn)許多圈，存在操作性及作業(yè)效率較差這樣的問(wèn)題。

為了解決這些問(wèn)題，增大圓錐構(gòu)件的圓錐角即可，例如在使圓錐角為 90 度的情況下，即使測(cè)桿轉(zhuǎn)動(dòng)與以往相同的旋轉(zhuǎn)圈數(shù)，也能夠使測(cè)量觸頭進(jìn)退以往的大致 2 倍的量。

但是，由于隨著圓錐角變陡峭而測(cè)量觸頭在圓錐構(gòu)件的圓錐面上滑動(dòng)時(shí)對(duì)滑動(dòng)面施加的負(fù)荷增大，測(cè)量觸頭在圓錐構(gòu)件上滑動(dòng)的部分產(chǎn)生的摩擦力大于以往，因此，有可能導(dǎo)致測(cè)量觸頭及圓錐構(gòu)件的耐久性降低。另外，以往測(cè)桿的移動(dòng)量與傳遞到測(cè)量觸頭的移動(dòng)量為相同的比率，但若圓錐構(gòu)件的圓錐角變大，則測(cè)桿的移動(dòng)量被傳遞到測(cè)量觸頭時(shí)會(huì)放大。即，由于以測(cè)桿較少的移動(dòng)量使測(cè)量觸頭移動(dòng)較大，因此，存在測(cè)量精度惡化這樣的問(wèn)題。