【廣告】
一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
常規(guī)鍍層厚度分析儀的原理
對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等,在有關(guān)國家和國際標準中稱為覆層(coating)。覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán),是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必備手段。為使產(chǎn)品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對覆層厚度有了明確的要求。X-RAY測厚儀特點1,價格高,機種不同,價格在10萬~100萬左右,可測試P(磷)~U(鈾),并且支持Rohs及元素分析功能等。
覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。
江蘇一六儀器 X射線熒光鍍層測厚儀
電鍍液測量杯整套含兩個測量杯,可用于多品牌X-RAY測厚儀上使用,高純元素本底提高測量精度和檢出限。電鍍液測試樣品杯,嚴格控制了容量和溢出物的處理,用來測試溶液中金屬離子的濃度;使用方便簡捷,無污染。
測試膜,又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜,邁拉膜,麥拉膜,XRF測試薄膜,XRF樣品膜,樣品薄膜,EDX薄膜,EDX樣品薄膜,ROHS檢測膜,光譜儀樣品薄膜;并且不用液氮制冷,不用定期補充液氮,操作使用更加方便,并且運行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。是應(yīng)用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內(nèi)的物質(zhì)。專用樣品薄膜是使用方便簡捷,無污染的測試用樣品薄膜,廣泛應(yīng)用于Elite、fischer、牛津、博曼、先鋒、日立、天瑞等各種品牌的EDX/XRF光譜儀。
江蘇一六儀器 X射線熒光鍍層測厚儀 元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)
厚度分析范圍:各種元素及有機物
x射線熒光鍍層測厚儀(國產(chǎn))是一款針對金屬電鍍層(鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫等)厚度的,通過X熒光照射出產(chǎn)品,每個元素反射出的二次特征譜線,通過檢測器分析出強度來金屬鍍層的厚度,完全達到無損、快速分析的效果,產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于電子電器、五金工具、電鍍企業(yè)(鋁平行管、電鍍五金),連接器企業(yè)、開關(guān)企業(yè)等。調(diào)整焦距:使用儀器左側(cè)焦距調(diào)整旋鈕,使得軟件測試畫面盡可能清晰12。
x射線熒光鍍層測厚儀性能優(yōu)勢
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
minimum φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
移動平臺可定位測試點,重復(fù)定位精度小于0.005mm
鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點x射線熒光鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù)
一次可同時分析多達五層鍍層
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
分析含量一般為2ppm到99.9%