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福州光譜分析儀值得信賴“本信息長期有效”

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發(fā)布時間:2020-09-22 06:35  







江蘇一六儀器    X熒光光譜測厚儀

下照式設(shè)計:可以快速方便地定位對焦樣品。

  無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測,凹槽深度范圍0-90mm。

  微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件。

  接收:即使測試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

  精密微型滑軌:快速精準(zhǔn)定位樣品。

  EFP先進(jìn)算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。


江蘇一六儀器  專業(yè)涂鍍層研發(fā)、生產(chǎn)、銷售高新技術(shù)企業(yè)。其中穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。

單鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。

雙鍍層:Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。

三鍍層:Au/Ni/Cu/ABS,Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等

一、功能

1. 采用 X 射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度,測量方法滿足

GB/T 16921-2005 標(biāo)準(zhǔn)(等同 ISO3497:2000、 ASTM B568 和 DIN50987)。

2.  鍍層層數(shù):多至 5 層。

3. 測量點尺寸:圓形測量點,直徑約 0.2—0.8毫米。

4. 測量時間:通常 30 秒。

5. 測量誤差:通常小于 5%,視樣品具體情況而定。

6. 可測厚度范圍:通常 0.01 微米到 30 微米,視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。



江蘇一六儀器    X射線熒光鍍層測厚儀 為大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析提供解決方案

X射線熒光光譜測厚儀操作流程:


1.打開儀器電源 開關(guān)

2.打開測試軟件

3.聯(lián)機

4.打開儀器高壓鑰匙,觀察軟件界面管流值不為0值且正常上升至1000左右

5.待機30分鐘

6.打開測試腔放入標(biāo)準(zhǔn)元素片Ag,通過調(diào)整移動平臺滑軌和焦距旋鈕使軟件測試畫面清晰

7.點擊峰位校正圖標(biāo)按照提示進(jìn)行操作

8.根據(jù)已知樣品信息新建(或選擇)合適的產(chǎn)品程式

9.點擊資料圖標(biāo),根據(jù)客戶需求調(diào)整相關(guān)測量參數(shù)

10.放置樣品:打開測試腔,將樣品需要測試的一面大致朝向測試窗,邊觀察軟件測試畫面邊通過移動平臺滑軌微調(diào)測試位置



進(jìn)而達(dá)到測試要求位置

11.調(diào)整焦距:使用儀器左側(cè)焦距調(diào)整旋鈕,使得軟件測試畫面盡可能清晰

12.開始測量:點擊開始測試圖標(biāo),進(jìn)行樣品測試或者按動儀器前面板測試按鈕進(jìn)行樣品測試

13.數(shù)據(jù)報告:對測量的數(shù)據(jù)結(jié)果進(jìn)行對比和分析,判斷數(shù)據(jù)是否正常,若出現(xiàn)異常可進(jìn)行多次測量排除偶然誤差

14.生成報告:點擊預(yù)覽報告可以對測試報告內(nèi)容和格式進(jìn)行調(diào)整,還可以電子版保存報告和直接打印紙質(zhì)報告

15.整理反饋:對測試結(jié)果進(jìn)行分析和整理,可通過給出測試報告的形式與客戶進(jìn)行溝通和反饋



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